Česky 
 |
I.C.T-Q518D
I.C.T
In-Circuit Test Systems
| Množství: | |
|---|---|
Vybaveno EC jet testovací technologií
Návrh karty CMOS + replay switch
Skutečná širokopásmová testovací technologie
Humanizované rozhraní win7, jednoduché ovládání a snadné použití
Výkonný pohled na desku
Pětidrátová testovací technologie, lze testovat až čtyři koncové komponenty
Automatické ladění testovacího programu ATPD
Vylepšete statistické analytické zprávy a efektivně monitorujte kvalitu výroby
| Modelka | I.C.T-Q518D |
| Velikost PCB | 500 mm x 380 mm (STANDARDNÍ) |
| Testovací body | 256 bodů standardně (1024 bodů je volitelných) |
| Přepnout kartu | 128/hrnec |
| Izolované body | 10/košík |
| Rychlost testu | 0,5 s/1024 bodů (otevřené/krátké) 2 ms ~ 40 ms/krok (komponenta) |
| Testovací rozsah | Odpor 0,1 Ω ~ 40M Ω Přesnost je 0,05 Ω~ 100M Ω (2drát) ± 1% - 5% (čtyřdrát) 0,05 Ω. Kapacita 1pf ~ 40MF přesnost ± 2%-5%. Indukčnost 1uh ~ 50h, přesnost 2% - 5%. Přesnost diod 0,1 ~ 6V ± 1%-3%. Stabilizované napětí dioda 0,1 ~ 15V přesnost ± 1%-3%. Měření saturačního napětí VCE na třech svorkách tranzistoru hodnoty β. Třísvorkový test tranzistoru VDS, CD, RD (zapnuto). Optický vazební člen a relé se čtyřmi svorkami pro testování jeho vodivostního napětí nebo odporu. |
| Zdroj napájení | AC: 100~240,50/60HZ,3Kw |
| Rozměr (mm) | 830*830*1600 |
| Hmotnost | Cca: 170 kg |
* Údaje jsou získávány při okolní teplotě 25 °C a vlhkosti 60 %
* I.C.T neustále pracuje na kvalitě a výkonu, specifikace a vzhled mohou být aktualizovány bez zvláštního upozornění.
Vybaveno EC jet testovací technologií
Návrh karty CMOS + replay switch
Skutečná širokopásmová testovací technologie
Humanizované rozhraní win7, jednoduché ovládání a snadné použití
Výkonný pohled na desku
Pětidrátová testovací technologie, lze testovat až čtyři koncové komponenty
Automatické ladění testovacího programu ATPD
Vylepšete statistické analytické zprávy a efektivně monitorujte kvalitu výroby
| Modelka | I.C.T-Q518D |
| Velikost PCB | 500 mm x 380 mm (STANDARDNÍ) |
| Testovací body | 256 bodů standardně (1024 bodů je volitelných) |
| Přepnout kartu | 128/hrnec |
| Izolované body | 10/košík |
| Rychlost testu | 0,5 s/1024 bodů (otevřené/krátké) 2 ms ~ 40 ms/krok (komponenta) |
| Testovací rozsah | Odpor 0,1 Ω ~ 40M Ω Přesnost je 0,05 Ω~ 100M Ω (2drát) ± 1% - 5% (čtyřdrát) 0,05 Ω. Kapacita 1pf ~ 40MF přesnost ± 2%-5%. Indukčnost 1uh ~ 50h, přesnost 2% - 5%. Přesnost diod 0,1 ~ 6V ± 1%-3%. Stabilizované napětí dioda 0,1 ~ 15V přesnost ± 1%-3%. Měření saturačního napětí VCE na třech svorkách tranzistoru hodnoty β. Třísvorkový test tranzistoru VDS, CD, RD (zapnuto). Optický vazební člen a relé se čtyřmi svorkami pro testování jeho vodivostního napětí nebo odporu. |
| Zdroj napájení | AC: 100~240,50/60HZ,3Kw |
| Rozměr (mm) | 830*830*1600 |
| Hmotnost | Cca: 170 kg |
* Údaje jsou získávány při okolní teplotě 25 °C a vlhkosti 60 %
* I.C.T neustále pracuje na kvalitě a výkonu, specifikace a vzhled mohou být aktualizovány bez zvláštního upozornění.
